خزش ثانویه

تاریخچه تحقیق در مورد نظریه‌های پلاستیسیته در سال ۱۸۶۴ با کارهای هنری ترسکا، سنت و نانت (۱۸۷۰) و لوی (1871) در مورد معیار حداکثر رفتار بُرشی آغاز شد. یک مدل پلاستیسیته بهبود یافته در سال ۱۹۱۳ توسط فون میزس ارائه شد که اکنون به عنوان معیار لهیدگی فون میزز شناخته می‌شود. در مورد ویسکوپلاستیسیته، تهیه یک مدل ریاضی به سال ۱۹۱۰ برمی گردد که خزش اولیه را با قانون آندراد توصیف می‌کند. در سال ۱۹۲۹، نورتون یک مدل داشپات تک بعدی ایجاد کرد که میزان خزش ثانویه را به تنش مرتبط می‌کرد. در سال ۱۹۳۴، اودکویست قانون نورتون را به موارد چند محوری تعمیم داد.

رفتار توده‌ای حاصل از لحیم به عنوان ویسکوپلاستیک (به عنوان مثال دگردیسی ناکشسانی وابسته به نرخ)، با حساسیت به دمای بالا توصیف می‌شود. بیشتر لحیم‌ها در طول عمر عملیاتی خود در معرض دما در نزدیکی دمای ذوب (دمای همولوگ زیاد) قرار دارند که این باعث می‌شود آنها نسبت به خزش قابل توجهی حساس شوند. چندین مدل سازنده برای ضبط ویژگی‌های خزش لحیم سرب و سرب ایجاد شده‌است؛ که رفتار خزش را می‌توان در سه مرحله توصیف کرد: خزش اولیه، ثانویه و سوم. هنگام مدل کردن لحیم، خزش ثانویه که به آن حالت خزش پایدار (سرعت کرنش ثابت) نیز گفته می‌شود، اغلب منطقه مورد علاقه برای توصیف رفتار لحیم در الکترونیک است. بعضی از مدل‌ها خزش اولیه را نیز در بر می‌گیرند. دو مورد از محبوب‌ترین این مدل‌ها، سینوس هایپربولیک هستند که توسط گاروفالو و آناند برای توصیف خزش در حالت پایدار لحیم ایجاد شده‌اند. این پارامترهای مدل اغلب به عنوان ورودی در شبیه‌سازی آنالیز اجزا محدود قرار داده می‌شوند تا به درستی رفتار لحیم نسبت به بارگذاری را مشخص کنند.